AET 介電常數(shù)測(cè)試儀 陶瓷粉體液體DkDf分析Microwave Dielectrometer

AET 介電常數(shù)測(cè)試儀 陶瓷粉體液體DkDf分析Microwave Dielectrometer

?? 一、產(chǎn)品概述與應(yīng)用背景

該裝置名為Microwave Dielectrometer，專為無(wú)線及高速數(shù)字設(shè)備的電氣設(shè)計(jì)而開發(fā)。它面向工程師和材料開發(fā)商，旨在讓任何人都能輕松實(shí)現(xiàn)高精度的介電率測(cè)量。系統(tǒng)針對(duì)不同的測(cè)量對(duì)象和頻率需求，提供了多種測(cè)量方式。

?? 二、三種主要測(cè)量模式對(duì)比

AET提供三種核心測(cè)量模式，分別針對(duì)不同形態(tài)的材料：

1. 空洞共振器 TM模式（薄膜/板材專用）

• 適用對(duì)象：PCB基板、薄膜、樹脂、玻璃及陶瓷等。

• 特點(diǎn)：基于JIS C2565標(biāo)準(zhǔn)，利用圓柱空洞中心軸的電場(chǎng)變化，適合測(cè)量PTFE或高純度陶瓷等低介電損耗材料的tanδ。

• 參數(shù)：頻率1GHz~10GHz，Dk范圍1~30，Df范圍0.1~0.0001，精度Dk±1%。

• 樣品要求：細(xì)長(zhǎng)條狀（寬3mm，厚0.05-1mm，長(zhǎng)>80mm）。

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2. 空洞共振器 TE模式（5G高頻專用）

• 適用對(duì)象：5G通信材料、高速信號(hào)傳輸柔性電路板。

• 特點(diǎn)：專門針對(duì)厚度0.3mm以下的薄膜，頻率可達(dá)40GHz，固定間隙設(shè)計(jì)保證了測(cè)量穩(wěn)定性。

• 參數(shù)：頻率10GHz~40GHz，Dk范圍1~5，Df范圍0.01~0.0001。

• 標(biāo)準(zhǔn)：符合JIS R1641及IPC-TM650 2.5.5.13。

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3. 同軸共振器（非破壞性測(cè)量）

• 適用對(duì)象：手機(jī)外殼、連接器模塑料等成品部件。

• 特點(diǎn)：利用開口部的隱逝波（近場(chǎng)）進(jìn)行非破壞性測(cè)量，無(wú)需樣品加工。

• 參數(shù)：?jiǎn)蝹€(gè)共振器可測(cè)5個(gè)頻點(diǎn)（覆蓋0.8GHz至18.4GHz），Dk范圍1~15。

• 技術(shù)背景：與東京大學(xué)前田研究室合作開發(fā)，專的利的號(hào)第3691812號(hào)。

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??? 三、特殊材料測(cè)量方案

• 粉體/液體：使用石英管填充樣品，通過真密度計(jì)算填充率來測(cè)定介電率；也可用于低極性溶劑的精密測(cè)量。

• 電纜材料：專用共振器設(shè)計(jì)，可直接對(duì)發(fā)泡PTFE等電線絕緣材料進(jìn)行高精度測(cè)量。

• 超低損耗陶瓷：采用介質(zhì)共振器，通過夾在導(dǎo)體板間的陶瓷圓柱共振，適合Df在0.001以下的材料。

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?? 四、系統(tǒng)構(gòu)成與服務(wù)

• 硬件配置：由共振器、網(wǎng)絡(luò)分析儀（支持Keysight, Anritsu, Rohde & Schwarz等品牌）及控制PC組成。

• 推薦設(shè)備：緊湊型USB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀MS46122B（頻率選項(xiàng)覆蓋1MHz至43.5GHz）。

• 軟件操作：配備專用軟件，通過測(cè)量向?qū)Ы缑鎸?shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單操作。

• 服務(wù)支持：AET提供基于豐富經(jīng)驗(yàn)的介電率測(cè)量服務(wù)，可根據(jù)客戶需求選擇最佳測(cè)量方法。

該測(cè)量系統(tǒng)通過模塊化設(shè)計(jì)覆蓋了從粉體到成品外殼的廣泛材料形態(tài)，并結(jié)合5G高頻測(cè)試需求，為材料研發(fā)與質(zhì)量控制提供了全面的解決方案。