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日本otsukael 高靈敏度光譜輻射儀 HS-1000 能夠測量從0.005cd/m2的超低亮度到400,000cd/ m2的高亮度 支持 CIE 推薦的寬波長范圍（355nm 至 835nm） 專有光學系統減少了偏光誤差 (1%)， 可以
更新時間：2024-07-12
日本otsukael多通道光譜儀 MCPD-9800/6800 這是一款涵蓋紫外到近紅外區域的多功能多通道光譜檢測器。光譜測量可在短至 5 毫秒內完成。標準設備的光纖可用于各種測量系統，無需樣品類型。除了顯微光譜、光源發射和透射/反射測量外，它還可以與軟件結合使用，用于物體顏色評估和薄膜厚度測量。能夠從低亮度到高亮度進行高速、高精度測量的光譜輻射亮度計。
更新時間：2024-07-12
日本otsukael Zeta 電位/粒徑測量系統 ELSZneoSE 可根據應用增加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變學測量、凝膠網絡結構分析、粒徑多角度測量）。 使用標準流通池連續測量粒徑和 zeta 電位 可在從稀溶液到濃溶液（高達 40%）的寬濃度范圍內測量粒徑和 zeta 電位
更新時間：2024-07-12
日本otsukael 電位/粒徑/分子量測量系統ELSZneo ELSZ 系列中的最高型號，除了可以測量稀溶液到濃溶液中的 zeta 電位和粒徑外，還可以測量分子重量。作為一項新功能，多角度測量已被采用，以提高粒度分布的分辨率。它還可以進行顆粒濃度測量、微流變學測量和凝膠網絡結構分析。 新型zeta電位平板電池單元具有新開發的高鹽涂層，可以在鹽水等高鹽環境下進行測量。我們還有一系列超微量細胞單元，
更新時間：2024-07-12
日本napson晶圓平面度測量系統FLA-200 支持厚度測量、PN判斷、溫度測量（硅晶圓） 自檢功能，測量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測量） 可根據要求容納任意數量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時間：2024-07-12
日本napson非接觸式電阻計 EC-80 支持厚度測量、PN判斷、溫度測量（硅晶圓） 自檢功能，測量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測量） 可根據要求容納任意數量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時間：2024-07-12
日本napson4探針法全自動測量分選機 WS-8800 支持厚度測量、PN判斷、溫度測量（硅晶圓） 自檢功能，測量范圍廣 厚度/周邊位置/溫度校正功能（電阻率（resistivity）測量） 可根據要求容納任意數量的包埋盒。 *可選：通訊軟件，兼容SMIF或FOUP
更新時間：2024-07-12
日本napson薄層電阻的 4 探針測量儀RT70V系列 半導體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等） 新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等） 導電薄膜相關（金屬、ITO等） 擴散樣品 硅基外延、離子注入樣品
更新時間：2024-07-12
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