咨詢電話
13691609757
products
產品分類
產品型號：SM-100S Standard
更新時間：2026-06-10簡要描述：Yamato Scientific 膜厚計 涂層厚度檢測儀SM-100S Standard，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數下的薄膜厚度。
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
便攜易用：整機重量僅 1.1公斤，輕巧便攜。內置電池和觸摸屏，無需連接外部電腦，開機即用，操作直觀，無需專業培訓。
高精度測量：采用分光干涉法，即使作為手持設備，也能實現 0.1微米 級別的高精度測量，且無需為每種材料制作校準曲線。
非接觸與非破壞性：測量過程不會對樣品造成任何損傷，適用于各種脆弱或昂貴的薄膜材料。
適應性強：不僅能測量平面，通過更換不同探頭，還可以測量有形狀、不規則的樣品，甚至可以測量生產線上的大型固定樣品，無需切割取樣。
光學薄膜：如反射防止膜、硬涂層等。
半導體：如氧化膜、光刻膠（Resist）膜等。
各類功能薄膜：包括食品包裝膜、醫療用膜、建材用膜等。
生產現場：可以直接拿到生產線，對正在加工的產品進行實時抽檢。
大型樣品：對于無法移動或切割的大型卷材、建材等，可以直接在現場進行測量。
研發實驗室：快速驗證不同工藝參數下的薄膜厚度。
標準探頭：適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等。
筆式探頭 (Pen-type Probe)：適用于狹窄空間或有復雜形狀的樣品。
非接觸式測量臺 (Non-contact Stage)：適用于不能接觸的樣品，如濕膜、半導體晶圓（Wafer）等，可自由設定探頭位置進行非接觸測量。
Yamato Scientific 膜厚計 涂層厚度檢測儀SM-100S Standard，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數下的薄膜厚度。
Yamato Scientific 膜厚計 涂層厚度檢測儀SM-100S Standard，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數下的薄膜厚度。
您的位置：
在線咨詢
返回頂部